培训对象：DFT工程师、测试工程师、芯片设计经理、质量可靠性工程师

培训目标：系统学习可测试性设计（DFT）核心技术，包括Scan、MBIST、JTAG及压缩技术，提升测试覆盖率与效率。

培训内容：

1. 1.DFT基本概念、测试成本与测试质量（DPPM）

2. 2.扫描链（Scan Chain）设计与插入技术

3. 3.自动测试向量生成（ATPG）与故障模型

4. 4.内存内建自测试（BIST）算法与实现

5. 5.边界扫描与JTAG（IEEE 1149.1）标准

6. 6.测试压缩技术与片上解压/压缩逻辑

7. 7.测试时钟规划与测试模式时序

8. 8.模拟/混合信号测试接口设计

9. 9.DFT与物理实现（布局布线）的协同

10. 10.测试向量转换与ATE加载流程

11. 11.良率诊断与失效位图分析（Bitmapping）

12. 12.面向汽车电子的DFT特殊要求（ISO 26262）

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服务优势：
丰富专家资源，精准匹配相关行业，相关项目技术精英，面向用户实际需求，针对性培训或咨询，互动式交流，案例教学，精品小班，实际工程项目经验分享，快捷高效，节省时间与金钱，少走弯路与错路。

专家力量：
中国科学院相关研究所高级研究人员
西门子，TI,vmware，MSC,Ansys，MDI，Mentor, candence,Altium,Atmel 、Freescale,达索，华为等
大型公司高级工程师，项目经理，技术支持专家
中科信软培训中心，资深专家或讲师
大多名牌大学，硕士以上学历，相关学历背景专业，理论素养高
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